19:52 2023-06-01
science - citeste alte articole pe aceeasi tema
Comentarii Adauga Comentariu
_ Accelerarea imagistică cu raze X la scară nanometrică a circuitelor integrate cu învățare automată
_ Accelerarea imagistică cu raze X la scară nanometrică integrată circuite cu învățare automată
Cercetătorii de la MIT și Argonne National Laboratory au dezvoltat o tehnică de învățare automată care ar putea accelera foarte mult procesul de imagistică cu raze X la scară nanometrică a circuitelor integrate, revoluționând potențial modul în care producem și testăm electronice.
Circuitele integrate, sau microcipurile, sunt elementele de bază ale electronicii moderne, iar miniaturizarea lor continuă a dus la dispozitive din ce în ce mai complexe și mai puternice. Cu toate acestea, pe măsură ce componentele acestor microcipuri se micșorează, devine mai dificil să le inspectați și să le testați folosind tehnici tradiționale de imagistică.
O metodă promițătoare pentru imagistica componentelor la scară nanometrică este tomografia pticografică cu raze X cu sincrotron, care utilizează raze X energetice pentru a pătrunde în material și pentru a crea imagini detaliate ale structurii interne. Cu toate acestea, imagistica cu raze X este un proces lent care necesită poziționarea precisă a probei și a detectorului și poate dura ore sau chiar zile pentru a obține o singură reconstrucție.
Pentru a accelera acest proces, MIT și Cercetătorii Argonne s-au orientat către învățarea automată. Ei au antrenat o rețea neuronală pentru a prezice reconstrucții precise ale obiectelor într-o fracțiune din timpul necesar. Rețeaua lor se numește APT sau Ptycho-Tomography atențional, care utilizează priorități de regularizare sub formă de modele tipice găsite în interioarele circuitelor integrate și fizica propagării razelor X prin obiect.
„Rețeaua neuronală este capabil să învețe dintr-o cantitate mică de date și să generalizeze, ceea ce ne permite să imaginăm și să reconstruim rapid circuitele integrate”, a spus Iksung Kang, autorul principal al lucrării. Cercetătorii au observat că abordarea lor reduce semnificativ timpul total de achiziție a datelor și timpul de calcul necesar pentru imagistica. Ei și-au testat tehnica pe un circuit integrat real și au reușit să capteze imagini detaliate în doar câteva minute, în comparație cu orele necesare în mod normal.
„Această nouă metodă ar putea fi o soluție eficientă pentru asigurarea calității. ," au zis. „Prin accelerarea procesului de imagistică, putem, de asemenea, permite fabricilor să se conecteze la surse de raze X sincrotron.”
Cercetătorii au remarcat că abordarea lor ar putea avea implicații semnificative pentru o varietate de domenii, inclusiv știința materialelor și biologic. imagistica. „Cercetarea noastră abordează o provocare critică în imagistica neinvazivă cu raze X a obiectelor la scară nanometrică, cum ar fi circuitele integrate”, a spus autorul principal. „Credem că cadrul nostru de învățare automată asistat de fizică și care folosește atenția ar putea fi aplicabil altor ramuri ale imagistică la scară nanometrică.”
Lucrarea este publicată în revista Light: Science & Applications.
Comentarii:
Adauga Comentariu